microscope

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반도체&FPD검사 현미경

Semiconductor & FPD Inspection Microscopes

MX 시리즈 현미경은 고객들에게 최고의 효율을 제공하기 위해 개발 되었습니다. MX현미경은 6", 8", 12" 스테이지 사용으로 다양한 크기의 Wafer 샘플을 검사/측정 할 수 있으며, 간편한 조작, 분석이 가능합니다.

AL120
AL120 Wafer Handler 시리즈는 실리콘과 컴파운트 반도체 웨이퍼를 카세트로부터 현미경의 스테이지에 안전하게 운송시켜 제품 검사의 작업 시간을 줄여주는 유용한 장비입니다. 인체공학적인 디자인으로 더욱더 사용하기 쉽게 기능적으로 향상시켜 편리성을 증대시켰습니다.

AL120-12
AL120-12는 웨이퍼 검사를 손쉽고 효율적으로 하기 위한 장비로, FOUP와 FOSB 타입 모두 사용가능하며 마지막 공정 검사에 알맞는 가격대비 높은 효율성을 지닌 장비입니다. 인체공학적인 디자인과 편리성은 오퍼레이터들이 웨이퍼를 교체할 때 안전하고 편리하게 사용할 수 있으며, 휘거나 얇은 웨이퍼도 대응이 가능합니다.

MX63/MX63L
MX63 및 MX63L 현미경 시스템은 300mm 크기의 대형 웨이퍼, 평면 패널 디스플레이, 회로 보드 및 기타 대형 샘플의 고품질 검사를 위해 최적화되어 있습니다.
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